PXI-Halbleitertestsystem für Digital- und
Mixed-Signal-Anwendungen

Geotest stellt mit dem TS-900 ein PXI-basiertes Testsystem für Bauteil-, System-On-Chip- und System-in a-Package-Testanwendungen vor. Mit bis zu 512 Kanälen mit 100MHz und je eigener parametrischer Messeinheit (PMU) sowie der integrierten Adapterschnittstelle beinhaltet das modulare TS-900 umfassende Hardware-Merkmale und Software-Eigenschaften für digitale und Mixed-Signal Testapplikationen. Die kundenspezifische Testschnittstelle ermöglicht den Einsatz von Adaptierungsleiterplatten zur Kontaktierung des Prüflings. Die Pinblöcke der Adapterschnittstelle können im Feld konfiguriert werden, sodass der Anwender die Schnittstelle umbauen oder erweitern kann, um das System an neue Applikationen anzupassen. Das System unterstützt zwischen 64 und 512 dynamische Digitalkanäle sowie analoge Kanäle, Spannungsversorgungen und Hochfrequenzanschlüsse. Die Grundausstattung des TS-900 Testsystems beinhaltet 64 digitale E/A-Kanäle, 64 statische digitale E/A-Kanäle, eine programmierbare Spannungsversorgung sowie einen System-Selbsttest mit Adapter. Auf der Softwareseite wartet das TS-900 mit DIOEasy des Herstellers zum Editieren und Anzeigen von Signalen im Waveform-Format auf. Mit ATEasy steht ein integriertes Entwicklungs- und Verwaltungssystem zur Verfügung, mit dessen Hilfe Testapplikationen entwickelt und gepflegt werden können. Zur Konvertierung digitaler Vektordaten aus ASCII-, WGL- oder STIL-Formaten stehen Softwaretools zur Verfügung. Das TS-900 ist sowohl als Tischgerät als auch in einer fahrbaren Version für den flexiblen Einsatz in der Produktion erhältlich.