Boundary-Scan-Plattformen in mehren Dimensionen
In der Endkonsequenz macht der Übergang zum Embedded System Access mit all seinen Facetten eine völlig neue Klasse von JTAG-/Boundary-Scan-Instrumentierungen notwendig und stellt damit eine enorme Herausforderung für die ATE-Lieferanten dar. Mittlerweile sind jedoch die ersten Lösungen in Form von multidimensionalen JTAG/Boundary-Scan-Plattformen verfügbar. Die Entwicklung des Embedded System Access wird perspektivisch vor allem durch weitere Standardisierung der Testbus-Ebene auf der Basis des IEEE1149.7 und der Ansteuerung von Chip Embedded Instruments durch IEEE1687 und Erweiterungen von IEEE1149.1 gekennzeichnet sein. Vor allem neue Instrument-IP in Form von Hardmakros oder FPGA-embedded Softmakros werden die Innovation bei den Test-, Mess- und Programmierstrategien kontinuierlich vorantreiben.
