Parasitics der Prüfvorrichtung und Automatisierung
Im Januar 2013 wurde ein Transiententest-Programm für das halbautomatische Testen von PMUs und Reglern initiiert. Man entwickelte und baute dazu eine universelle Regler-Prüfvorrichtung, mit der sich die Eigenschaften des Prüflings erfassen lassen. Die Bilder 2 und 3 zeigen eine für LDO-Regler vorgesehene Prüfvorrichtung, die ein Evaluation Board (EVB) aufnehmen kann und ein halbautomatisches Testen ermöglicht. Das Schaltbild ist in Bild 4 wiedergegeben.

Zusätzliche Verbesserungen
Mit den Prüfvorrichtungen gelang es tatsächlich, die gesteckten Designziele zu erreichen, indem die Parasitics und Stromschleifen entscheidend reduziert wurden, sodass sich beim Ansteuern der zu testenden Produkte steilere Flanken erzeugen ließen. Im Juni 2013 folgte eine verbesserte, leistungsfähigere und höher integrierte Prüfvorrichtung mit der Eignung für die modernen, breitbandigen und mit höheren Flankensteilheiten arbeitenden Produkte sowie für künftige Generationen. Wie Bild 8 zeigt, wurde diese verbesserte Version mit einer runden Leiterplatte ausgestattet. Im Interesse größtmöglicher Flexibilität kann sie mit einem EVB oder dem Prüfling selbst bestückt werden. Ebenso besteht die Möglichkeit, den Prüfling aus Gründen optimaler Performance direkt auf die Leiterplatte zu löten. Die Leiterplatte wurde nach den Regeln der HF-Technik entworfen, und die Leiterbahnen wurden aufeinander abgestimmt und in ihrer Impedanz kontrolliert. Die Prüfvorrichtung ist außerdem mit einem Akku bestückt, der in rauscharmen Anwendungen als rauschfreie Stromversorgung für den Prüfling fungiert. Für extremere Prüfanforderungen wurde die Prüfvorrichtung so modifiziert, dass sie sich mit Luftstromsystemen zur Durchführung von Temperaturwechselprüfungen kombinieren lässt. Diese Version lässt sich luftdicht versiegeln, um eine etwaige Eisbildung bei extremen Temperaturen auszuschließen. Die in Bild 9 gezeigte Gehäusestruktur unterstützt eine Personality Card für das EVB. Eine mögliche Alternative wäre eine runde Leiterplatte, auf die der Prüfling direkt aufgelötet wird. Zum Ausstattungsumfang gehört ebenfalls ein für hohe Temperaturen geeigneter Adapter aus transparentem Kunststoff zur Verbindung mit dem Temperaturwechsel-Gehäuse.

A. NFET-Schalter zum Erzeugen der Laststufen (unter den Widerständen)
B. NPN-Folger zum Erzeugen der netzseitigen Stufen
C. 48 mA Relaistreiber
D. Relais zum Auswählen der Last (Bild: Texas Instruments Deutschland GmbH)
Architektur und automatischer Testablauf
Der mit ‚Supply‘ bezeichnete Teil stellt alle Spannungseingänge und netzseitigen Transienten für den Prüfling zur Verfügung. Der mit ‚Load‘ bezeichnete Block wiederum umfasst mehrere mit Relais zugeschaltete ohmsche Lasten, während der ‚Control‘-Teil als Schnittstelle zum Prüfling dient und dafür zuständig ist, die Versorgungs- und Lasteinstellungen zu verändern. Die Aufgabe des ‚Measurement‘-Blocks besteht schließlich darin, die Spannungen und Ströme am Eingang und am Ausgang zu messen.



















