Embedded Design VI 2011
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PXI-Halbleitertestsystem für Digital- und Mixed-Signal-Anwendungen Geotest stellt mit dem TS-900 ein PXI-basiertes Testsystem für Bauteil-, System-On-Chip- und System-in a-Package-Testanwendungen vor. Mit bis zu 512 Kanälen mit 100MHz und je eigener…
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